ПРОГРАММА
учебного курса повышения квалификации
УНЦ "Международная школа микроскопии"


"Рентгеновский микроанализ в растровой электронной микроскопии"

1. Цель обучения

Обучить основам аналитической химии и практическим навыкам применения рентгеновского микроанализа в растровой электронной микроскопии.

2. Приобретаемые знания, умения, навыки

  • знание:
  • теории взаимодействия электронного пучка с веществом;
  • теории рентгеноспектрального анализа в растровой электронной микроскопии;
  • методик пробоподготовки и работы с различными типами образцов;

  • умение:
  • управлять характеристиками изображения в различных режимах;
  • интерпретировать изображения, получаемые от различных детекторов в растровых электронных микроскопах;
  • интерпретировать изображения, полученные с помощью энерго-дисперсионного спектрометра;
  • измерять и интерпретировать результаты качественного и количественного анализа, проведенного с помощью энерго-дисперсионного спектрометра;
  • проводить распределенные измерения химического состава (количественные и качественны), в том числе: в точках (микроанализ), на линии (профилирование), на площади (картирование).


3. Объем дисциплины и виды учебной работы (час)

Вид учебной работы Всего часов
Общая трудоемкость 72
Аудиторные занятия, в том числе: 28
Лекции 22
Практические занятия 18
Аттестация (в виде экзамена) 4
Самостоятельная работа 44

4. Содержание учебной дисциплины

4.1. Разделы дисциплины и виды занятий

Раздел дисциплины
Лекции
Семинары
Лабораторные работы
1 Введение в рентгеновский микроанализ в РЭМ 2 - -
2
-
-
2 Непрерывное и характеристическое рентгеновское излучения, их особенности. 4 - -
4
-
-
3 Методы измерения рентгеновского излучения в РЭМ 6 - 9
6
-
9
4 Качественный рентгеновский микроанализ 4 -
4
-
5 Количественный рентгеновский микроанализ 2 - 6
2
-
6
6 Рентгеноспектральный микроанализ в РЭМ 4 - 3
4
-
3
  Экзамен
4
-

4.2. Содержание лекционного курса ( 22 часа )

  • Раздел 1. (2 часа) Введение в рентгеновский микроанализ в РЭМ.
  • Раздел 2. (4 часа) Непрерывное и характеристическое рентгеновское излучения, их особенности. Генерация рентгеновского излучения.
  • Раздел 3. (6 часа) Методы измерения рентгеновского излучения в РЭМ: спектроскопия с дисперсией по энергии (ЭДС) и спектроскопия с дисперсией по длинам волн (ВДС), в том числе: понятие микрорентгеноспектрального анализа (или рентгеновского микроанализа); спектрометрия с волновой дисперсией; устройство рентгеновского спектрометра с волновой дисперсией; спектрометрия с энергетической дисперсией; устройство рентгеновского спектрометра с энергетической дисперсией.
  • Раздел 4. (4 часа) Качественный рентгеновский микроанализ.
  • Раздел 5. (2 часа) Количественный рентгеновский микроанализ, анализ химического состава в точке, картирование, количественная оптимизация.
  • Раздел 6. (2 часа) Рентгеноспектральный микроанализ в РЭМ. Подпрограмма INCA Energy.
  • Раздел 7. (2 часа) Рентгеноспектральный микроанализ в РЭМ. Подпрограмма AztecEnergy.

4.3. Перечень тем практических занятий (18 часа)

Наименование Кол-во часов
1 Анализ состава неметаллических включений в изломах 3
2 Анализ толщины и состава покрытия материала 3
3 Анализ химического состава ювелирных изделий 3
4 Анализ распределения элементов в челябинском метеорите 6
5 Исследование состава монет московского монетного двора 3

4.4. Перечень тем семинарских занятий
Программой курса семинарские занятия не предусмотрены

4.5. Перечень тем лабораторных занятий
Лабораторные занятия данной программой не предусмотрены

5. Учебно-методическое обеспечение дисциплины
5.1. Рекомендуемая литература

  1. Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984, книги 1,2.

6. Материально-техническое обеспечение дисциплины (указывается специализированные лаборатории и классы, основные установки и стенды)

  1. Специализированный компьютерный класс для проведения компьютерных практических занятий.
  2. Растровый электронный микроскоп JEOL JSM 6610LV.

7. Методические рекомендации по организации изучения дисциплины
Обучение организуется в соответствии с настоящей программой.

8. График проведения контрольных мероприятий
На последнем занятии курса проводится аттестация по всем разделам курса в виде экзамена (4 часа).

Программа составлена в соответствии с требованиями производителя электронных микроскопов JEOL Inc. и требованиями Федеральных государственных образовательных стандартов при финансово й поддержке Министерства науки и образования РФ в рамках Федеральной целевой программы "Научные и научно-педагогические кадры инновационной России на 2009 - 2013 годы" (соглашение о предоставлении гранта в форме субсидии № 14.А18.21.0624 от 16 августа 2012 года.