НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Вероятность ионизации внутренних оболочек

Вероятность ионизации внутренних оболочек Q. Данная вероятность Q определяется сечением ионизации внутренних оболочек (рисунок 14). Ее величина задается формулой:

– число электронов на оболочке или подоболочке (для К оболочки =2)

, – постоянные для данной оболочки

– энергия ионизации для оболочки

– перенапряжение, E – энергия падающих электронов

Рисунок 14 – Зависимость вероятности ионизации Q от перенапряжения U

Из риснука 14 видно, что вероятность медленно растет от нуля при U=1, достигая пика при U=3 и далее медленно уменьшается с ростом перенапряжения.