НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Программа курса по ПЭМ

Раздел 4. Съемка изображения на CCD камеру и пленку (2 часа)

4.1. Устройство CCD камеры и ее характеристики. Сравнение боковой и нижней CCD камер. Настройка и калибровка. Управление настройками CCD камерами. Калибровка CCD при съемке дифракции для разных длин камер.

4.2. Устройство фотографирования изображения на пленку. Загрузка, выгрузка пленки в кассету приемник. Фотографирование. Подбор оптимальных параметров для фотографирования.

4.3. Проявка и получение негатива изображения, сфотографированного на пленку. Проявка, фиксация, промывка, сушка.

Раздел 5. Метод сканирующей-просвечивающей электронной микроскопии (STEM), наблюдение в светлом и темном поле, устранение астигматизма (4 часа)

5.1. Получение STEM изображения в просвечивающем электронном микроскопе. Выбор конденсорной диафрагмы. Фокусировка. Настройка яркости и контрастности.

5.2. Коррекция астигматизма конденсорной линзы в режим STEM. Получение Роншиграммы.

5.3. Изображение в STEM режиме в режиме светлого и темного поля.

4.3. Перечень тем практических занятий (22 часа)

Наименование

Кол-во часов

1

Включение и выключение микроскопа. Загрузка и выгрузка образца.

2

2

Получение светлопольного контрастного изображения, дифракции от выбранной области, темнопольного изображения.

6

3

Настройка электроннооптической системы просвечивающего электронного микроскопа.

4

4

Съемка изображения на CCD камеру. Съемка изображения на пленку.

6

5

Получение STEM изображения, коррекция астигматизма. Получение светлопольного и темнопольного изображения в STEM режиме.

4

4.4. Перечень тем семинарских занятий

Программой курса семинарские занятия не предусмотрены

4.5. Перечень тем лабораторных занятий

Программой курса лабораторные работы не предусмотрены