Программа курса по ПЭМ
5. Учебно-методическое обеспечение дисциплины
5.1. Рекомендуемая литература (основная и дополнительная)
а) основная литература
1. П. Хирш, А. Хови, Р. Николсон, Д. Пэшли, М. Уэлан, Электронная микроскопия тонких кристаллов. Издательcтво «МИР». Москва, 1968.
2. Д. Синдо, Т. Оикава. Аналитическая просвечивающая электронная микроскопия. Техносфера, 2006. – 256 с.
3. Л. М. Утевский, Дифракционная электронная микроскопия в металловедении. М., «Металлургия», 1973. 584 с.
4. Г. Шиммель, Методика электронной микроскопии. Издательство «МИР», М., 1972, 301 с.
5. Практические методы в электронной микроскопии. Под редакцией Одри М. Глоэра. Л. Машиностроение. 1980. 375 с.
5.2. Средства обеспечения освоения дисциплины (перечень обучающих, контролирующих и расчетных компьютерных программ, диафильмов, кино- и телефильмов)
1. Специализированный компьютерный класс для проведения компьютерных практических занятий.
2. Просвечивающий электронный микроскоп в аналитической конфигурации JEOL JEM 1400.
7. Методические рекомендации по организации изучения дисциплины
Обучение организуется в соответствии с настоящей программой.
8. График проведения контрольных мероприятий
На последнем занятии курса проводится аттестация по всем разделам курса в виде экзамена (4 часа).
Программа составлена в соответствии с требованиями производителя электронных микроскопов JEOL Inc. и требованиями Государственных образовательных стандартов при финансово й поддержке Министерства науки и образования РФ в рамках Федеральной целевой программы «Научные и научно-педагогические кадры инновационной России на 2009 – 2013 годы» (соглашение о предоставлении гранта в форме субсидии № 14.А18.21.0624 от 16 августа 2012 года.
Руководитель коллектива авторов
Инженер 1 категории УНЦМ М.В. Горшенков
СОГЛАСОВАНО:
Директор УНЦМ Д.Г. Жуков
