Контрольные вопросы по ПЭМ
41. Назовите основные компоненты магнитной линзы и опишите их функции.
42. Какая сила действует на электрон в магнитном поле и как мы можем контролировать эту силу?
43. Дате определение «недофокусировки» и «перефокусировки»
44. Почему объективная линза является самой важной линзой в ПЭМ?
45. В чем причины возникновения разворота дифракционной картины относительно микроскопического изображения?
46. Что такое Гаусова плоскость изображения?
47. Дайте определение эвцентрической плоскости.
48. Для чего используются диафрагмы в ПЭМ?
49. Что такое сферическая аберрация и каковы причины ее возникновения?
50. Что такое хроматическая аберрация и каковы основные источники хроматической аберрации в ПЭМ?
51. Что такое астигматизм, и каким образом его можно скорректировать?
52. Назовите возможныепричины возникновения некомпенсируемого астигматизма объективной линзы?
53. Что, в конечном счете, определяет предельное разрешение ПЭМ?
54. Оцените предельное разрешение микроскопа с ускоряющим напряжение 100 кВ при работе с очень тонким образцом, полагая, что Cs=1мм а β=1 мрад.
55. Как мы можем «увидеть» электроны?
56. Чем обычно покрыт экран просмотра изображения в ПЭМ?
57. Почему экран просмотра изображения обычно эмитирует зеленый свет?
58. Как работает паромаслянный насос?
59. Как работает турбомолекулярный насос?
60. Как работает ионный насос?
61. Какие вакуумные насосы следует использовать, чтобы минимизировать возможность загрязнения вашего образца?
62. Где располагаются наиболее распространенные места утечки вакуума в ПЭМ и почему именно в этих местах?
63. Назовите основные преимущества и недостатки бокового держателя образца?
64. Почему наблюдает практически полное исчезновение держателей образца с верхней загрузкой?
65. Какой вакуум называют высоким (дайте ответ в единицах давления)?
66. Назовите причины использования для аналитической просвечивающей микроскопии Be держателя, а не держателя из более легкого или более тяжелого металла, например Mg? Каковы потенциальные проблемы при использовании Be держателя?
67. Назовите три основные системы просвечивающего электронного микроскопа.
68. Каким образом электронный луч наклоняется или перемещается в ПЭМ?
69. Почему необходимо формирование параллельного пучка в ПЭМ, и почему его не удается сделать полностью параллельным?
70. Каким образом получают сходящийся пучок в ПЭМ, для чего это необходимо?
71. Каким образом осуществляется выравнивание электронной пушки?
72. Что свидетельствует о смещении C2 диафрагмы и как это исправить?
73. Как изменяется размер зонда с изменением тока в C1 линзе?
74. Объясните необходимость набора С2 диафрагм при различных возбуждениях С1 линзы?
75. Чем отличаются дифракционная картина из выбранной области и дифракция в сходящемся пучке?
76. Что такое конденсорно-объективная линза и в чем ее отличие от объективной линзы?
77. В чем разница между темнопольным и светлопольным изображением?
78. В чем отличие темнопольных и светлопольных СПЭМ изображений?
79. В чем преимущество получения СПЭМ изображений по отношению к ПЭМ изображениям?
80. Каким образом осуществляется исправление астигматизма осветительной системы?
