Контрольные вопросы по ПЭМ
81. Каким образом осуществляется детектирование и исправление астигматизма объективной линзы?
82. Каким образом осуществляется исправление астигматизма промежуточных линз?
83. Какие основные калибровки должны быть проведены для просвечивающего электронного микроскопа?
84. Каким образом происходит настройка положения образца в эвцентрической плоскости?
85. Каким образом осуществляется изменение увеличения в ПЭМ?
86. Каким образом осуществляется изменение увеличения в СПЭМ?
87. Почему необходимо настраивать положение пучка относительно объективной линзы (настройка Вольтового центра)?
88. В чем основная трудность приготовления образцов для просвечивающего электронного микроскопа?
89. Что такое длина камеры для дифракционных картин в ПЭМ?
90. В чем разница между приготовлением образцов методом электролитической полировки и методом ионного утонения?
91. Почему в процессе ионного утонения образец необходимо вращать?
92. Почему в процессе электролитической полировки необходимо охлаждать электролит?
93. Как зависит толщина образца прозрачная для электронов от ускоряющего напряжения?
94. Назовите основные методы приготовления образцов полимерных материалов для исследования методом просвечивающей электронной микроскопии?
95. Опишите принцип работы полупроводниковго детектора.
96. Какой детектор, для какого сигнала необходимо использовать в ПЭМ?
97. Как определить положение точного фокуса образца?
98. Что такое глубина фокуса и глубина поля?
99. Где в просвечивающем электронном микроскопе первый раз образуется картина дифракции?
100. Где располагается аппертурная диафрагма объективной линзы в колонне микроскопа?
