НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Лабораторная работа № 2. Получение светлопольного контрастного изображения, дифракции от выбранной области, темнопольного изображения

В электронном микроскопе, линзами для электронных лучей являются электростатические или магнитные поля, имеющие осевую симметрию.

Электромагнитная линза представляет собой соленоид, заключенный в железный панцирь, имеющий так называемый воздушный зазор внутри соленоида, где и создается сильное магнитное поле определенной конфигурации.

Таблица 1. Сравнение характеристик катодов из вольфрамовой нити накаливания и гексаборида лантана

Характеристика

Термоэлектронная эмиссия

W

LaB6

Яркость (А/см2 стер) при 120 кВ

-5×105

-5×106

Размер источника

50 мкм

10 мкм

Разброс электронов по энергии  (эВ)

2.3

1.5

Условия работы:

Давление (Па)

Температура (К)

10-3

2800

10-5

1800

Ток эмиссии (мкА)

~100

~20

Стабильность в течение короткого времени

1%

1%

Стабильность в течение длительного времени

1%/ч

3%/ч

Эффективность сбора тока эмиссии

100%

100%

Электронно-оптическая система микроскопа состоит из линз: конденсорной, объективной, промежуточной и проекционной (Рисунок 2). Сюда же относятся стигматоры (электромагнитные катушки, выравнивающие магнитные поля линз) и дефлекторы (устройства, позволяющие регулировать наклон, смещение пучка и т.д.) Принцип действия дефлектора показан на рисунке 3.

Магнитным полем конденсорной линзы электронный пучок собирается в микроскопе возле объекта (передняя фокальная плоскость объективной линзы). Часть электронов, рассеянных при прохождении через объект проходят через апертурную диафрагму объективной линзы и дают промежуточное увеличенное изображение предмета в плоскости селекторной диафрагмы (передняя фокальная плоскость промежуточной линзы). Фокусировку изображения осуществляют изменением тока в обмотке объективной линзы. Первичное или дифракционное изображение объекта формируется в главной фокальной плоскости объектива.