Лабораторная работа №5. Получение STEM изображения, коррекция астигматизма. Получение светлопольного и темнопольного изображения в STEM режиме
Цель работы: ознакомиться с работой просвечивающего электронного микроскопа в сканирующем режиме (СПЭМ). Научиться получать качественное изображение в СПЭМ режиме, устранение астигматизма.
ТЕОРЕТИЧЕСКИЙ МАТЕРИАЛ
Для формирования изображения в СПЭМ режиме используется тонкий зонд и оптическая система объективной линзы немного сложнее, чем в случае традиционной ПЭМ. Ключевой особенностью является то, что в процессе сканирования не должно меняться направление сканирующего пучка (в отличие от СЭМ, где сканирующий луч просто поворачивается вокруг точки над образцом). Если направление падающего пучка изменяется, то процессы рассеяния электронов (в частности, дифракция) будут меняться, так как луч пересекает образец под разными углами. Таким образом, интерпретация контрастности изображения будет достаточно сложна.
Как показано на рисунке 1, мы достигаем параллельности падения лучей, используя две пары отклоняющих катушек для вращения луча в передней фокальной плоскости верхнего полюснуго наконечника (С3) объективной линзы. Благодаря включению линзы C3, все электроны, выходящие из центра вращения остаются параллельными оптической оси, и изображение кроссовера линзы C1 формируется в плоскости образца. Теперь, если объективная линза симметрична, а нижний полюсный наконечник объективной линзы также сильно возбужден, то стационарная дифракционная картина формируется в задней фокальной плоскости (эта картина не двигается, несмотря на то, что луч сканирует поверхность, поскольку она сопряжена с передней фокальной плоскостью, как показано на рисунке 2). Если мы остановим пучок, перестав сканировать, то мы будем иметь картину дифракции в сходящемся пучке в задней фокальной плоскости, и мы можем проецировать ее на экран компьютера ПЭМ. Сначала давайте обсудим, как формироуется СПЭМ изображение.
