Страница 7 из 7
Навигатор Профиль
Непосредственно после описания образца и получения электронного изображения можно приступать к шагу накопления профиля по линии (рисунок 75).
На этом этапе вы можете получить распределение элементов по линии, определенной на электронном изображении или карте.
Рисунок 75 – Окно накопления профилей состава вдоль линии
Список литературы, использованной при подготовке курса
- Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984, книги 1,2.
- Рид С. Дж. Б Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Москва,Техносфера, 2008. 232 стр.
- Scanning electron microscopy and x-ray microanalysis / Goldstein J. et al. - New York: Plenum Press, 2003
- Руководство пользователя Aztec User Manual / Oxford Instruments, 2012
- Мазалов Л.Н., Рентгеновские спектры (под ред. Борисова С.В.) ИНХ СО РАН, 2003г
- Руководство пользователя INCA Energy/ Oxford Instruments, 2004 г.
