РЕКОМЕНДУЕМАЯ ЛИТЕРАТУРА
- Гоулдстейн Дж. и др. Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ. М.: Мир, 1984, книги 1,2.
- Рид С. Дж. Б Электронно-зондовый микроанализ и растровая электронная микроскопия в геологии / Москва,Техносфера, 2008. 232 стр.
- Брандон Д., Каплан У. Микроструктура материалов. Методы исследования и контроля / М.: Техносфера, 2004 г. , 384 с.
- Криштал М. М., Ясников И. С., Полунин В. И. и др. Сканирующая электронная микроскопия и рентгеноспектральный микроанализ в примерах практического применения / М.: Техносфера, 2009 г. , 208 с.
