НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Программа курса по РЭМ

ПРОГРАММА
учебного курса краткосрочного повышения квалификации УНЦ Международная школа микроскопии»
«Растровая электронная микроскопия и рентгеновский микроанализ»


1. Цель обучения

Обучить основам растровой электронной микроскопии и практическим навыкам работы на растровых электронных микроскопах/

2. Приобретаемые знания, умения, навыки

– знание:
теории взаимодействия электронного пучка с веществом;
устройства растрового электронного микроскопа компании;
теории формирования изображения в растровом электронном микроскопе;
теории рентгеноспектрального анализа в растровой электронной микроскопии;
методик пробоподготовки и работы с различными типами образцов.

– умение:
выполнять основные текущие технологические операции при работе на растровых электронных микроскопах;
управлять характеристиками изображения в различных режимах;
интерпретировать изображения, получаемые от различных детекторов в растровых электронных микроскопах;
проводить основные операции по обслуживанию растрового электронного микроскопа.

3. Объем дисциплины и виды учебной работы (час)

Вид учебной работы

Всего часов

Общая трудоемкость

72

Аудиторные занятия, в том числе:

44

Лекции

22

Практические занятия

18

Аттестация (в виде экзамена)

4

Самостоятельная работа

28