Список контрольных вопросов
Страница 2 из 17
3. Методические вопросыа) Выбор оптимального ускоряющего напряжения. Оценка разрешающей способности.
б) Выбор оптимального размера пятна (Spot Size)
в) Выбор полезного увеличения.
г) Выбор оптимального рабочего расстояния объективной линзы (WD)
д) Устранение астигматизма на изображении
е) Выбор рационального типа сигнала (контраста) для анализа
ж) Настройка фокуса, яркости и контраста
4. Микрорентгеноспектральный анализ
а) Спектрометрия с энергетической дисперсией. Точность анализа.
б) Устройство рентгеновского спектрометра с энергетической дисперсией
в) Последовательность количественного анализа
г) Количественная оптимизация
д) Варианты представления концентраций найденных элементов
е) Факторы влияющие на точность рентгеновского микроанализа атомного состава материалов. Поправки вводимые при анализе. Метод эталонов.
ж) Навигаторы системы микроанализа INCA Energy
з) Последовательность обработки спектра в РСА
и) Методика анализа химического состава в точке
к) Методика построение профиля состава вдоль линии
л) Методика построения карт состава по площади
5. Практические задания
а) Включение и выключение РЭМ
б) Установка и извлечение образца
б) Замена катода
г) Юстировка электромагнитной системы
д) Замена (чистка) диафрагмы объективной линзы. Юстировка диафрагмы.
е)Исследование поверхности разрушения детали/образца
ж) Исследование порошков. Оценка морфологии частиц, дисперсность.
з) Исследование непроводящих материалов. Нанесение покрытий.
и) Исследование биологических объектов
к) Анализ химического состава в точке
л) Построение карты распределения элементов по поверхности
м) Исследования структуры материалов и состава неметаллических включений.
н) Подготовка образцов для исследования в РЭМ. Маркировка.
о) Определение толщины покрытия, диффузионного слоя, тонкой проволоки.
п) Исследование микросегрегации, дендритной ликвации.
р) Ранжировка по атомному номеру имеющиеся в образце фазы.
