НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Список контрольных вопросов

Вопросы в виде тестов

Лекция 1

1. Оптический микроскоп позволяет работать при увеличениях:

  • до 100;

  • до 1000;

  • до 5000;

  • до 10000.



  • 2. В электронном микроскопе в качестве опорного излучения используются:
  • лучи видимого света;

  • пучок электронов высокой энергии;

  • пучок квантов рентгеновского излучения;

  • пучок атомов



  • 3. Место РЭМ в шкале исследуемых объектов исходя из пространственного разрешения:
  • между оптическими и просвечивающими (ПЭМ);

  • между оптическим и наблюдением невооруженным глазом;

  • между просвечивающим и сканирующим зондовым.



  • 4. Работа РЭМ основана на прохождении:
  • света через образец;

  • прохождении пучка электронов через образец;

  • сканировании пучка электронов поверхности образца;

  • облучении образца сфокусированным рентгеновским излучением.



  • 5. Максимальное увеличение электронного микроскопа:
  • 1000;

  • 10000;

  • 100000;

  • 1000000.

  •