Список контрольных вопросов
Страница 15 из 17
Лекция 9.
1.EBSD – это…:
пошаговое измерение кристаллографических ориентаций микрообластей;
пошаговое измерение локального химического анализа;
пошаговое измерение тока прошедших электронов.
2. Задачи, решаемые методом EBSD, включают в себя…:
ориентация кристалла:
анализ текстуры;
анализ границ;
анализ топографии.
3. Преобразование координат точек множества линий дифракционной картины в группу линий в полярных координатах, пересекающихся в некотором пространстве называется…:
преобразованием Лоренца;
преобразованием Хафа;
преобразованием Фурье;
преобразованием Лапласа.
4.Кристаллографические индексы, характеризующие расположение атомных плоскостей в кристалле, называются…:
индексами Миллера;
индексами Кикучи;
индексами Вульфа;
индексами Пирсона.
5. Варианты пробоподготовки в методике EBSD:
электрополировка;
ионное утонение;
длительная полировка в коллоидной суспензии;
напыление платиной.