Список контрольных вопросов
Страница 16 из 17
6. От каких параметров зависит пространственное разрешение методики EBSD?
ускоряющего напряжения;
типа электромагнитной пушки РЭМ;
тока пучка;
материала образца;
количества конденсорных линз в РЭМ.
7. При увеличении ускоряющего напряжения толщина линий Кикучи ...
не меняется;
увеличивается;
уменьшается.
8. Увеличение тока пучка в колонне РЭМ приводит к …
ускорению набора и распознавания картин Кикучи;
улучшению пространственного разрешения:
замедлению набора и распознавания картин Кикучи.
9. Увеличение атомного номера исследуемого материала приводит к ..
улучшению пространственного разрешения;
ухудшению пространственного разрешения;
не влияет на пространственное разрешение.
10. Погрешность метода составляет величину, примерно равную…
1 градус
5 граудсов
10 градусов
11. Оптимальная область анализа для построение карт ориентировки кристаллов должна включать в себя…
10 зерен;
100 зерен;
1000 зерен.