НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Список контрольных вопросов

6. От каких параметров зависит пространственное разрешение методики EBSD?

  • ускоряющего напряжения;

  • типа электромагнитной пушки РЭМ;

  • тока пучка;

  • материала образца;

  • количества конденсорных линз в РЭМ.



  • 7. При увеличении ускоряющего напряжения толщина линий Кикучи ...
  • не меняется;

  • увеличивается;

  • уменьшается.



  • 8. Увеличение тока пучка в колонне РЭМ приводит к …
  • ускорению набора и распознавания картин Кикучи;

  • улучшению пространственного разрешения:

  • замедлению набора и распознавания картин Кикучи.



  • 9. Увеличение атомного номера исследуемого материала приводит к ..
  • улучшению пространственного разрешения;

  • ухудшению пространственного разрешения;

  • не влияет на пространственное разрешение.



  • 10. Погрешность метода составляет величину, примерно равную…
  • 1 градус

  • 5 граудсов

  • 10 градусов



  • 11. Оптимальная область анализа для построение карт ориентировки кристаллов должна включать в себя…
  • 10 зерен;

  • 100 зерен;

  • 1000 зерен.

  •