НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Лекция 4. Сканирование образца электронным пучком и формирование изображения

Сканирование вдоль линии

При сканировании вдоль строки пучок движется вдоль одной из линий на образце. На экране положение по оси Х соответствует расстоянию вдоль определенной линии на образце, а по оси Y - интенсивности сигнала с какого либо детектора (рисунок 50).

Рисунок 50 – Сканирование пучком электронов вдоль строки и результаты величины сигнала вдоль этой линии

Сканирование по площади

При сканировании по площади пучок сканирует образец по двумерному X-Y растру (рисунок 51). Для отображения информации о взаимодействии электронов с объектом используется яркостная модуляция интенсивности сигнала на экране электронного микроскопа (более 16 градаций серого).

Рисунок 51 - Сканирование пучком электронов по площади и результаты величины сигнала в оттенках серого для каждой точки анализа на экране монитора