НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Накопление спектра (примерно 100 сек.)

Быстродействующий алгоритм автоматически определяет пики в спектре и элементы в образце. По мере набора спектра результаты автоматической идентификации непрерывно обновляются и уточняются.

Проверка найденных элементов с возможностью уточнения автоматически идентифицированных элементов. При этом используются маркеры элементов для уточнения позиции и высоты спектральных пиков. Путем сравнения формы реального спектра с наложением реконструированного спектра контролируется идентификация элементов в случае сложных перекрытий спектральных линий. Так реализуется этап качественного анализа.

Количественный анализ спектра на основе идентифицированных на предыдущем этапе элементов ведется посредством измерения интенсивностей выбранных линий спектра и линий эталонов.

Формирование отчета об исследовании

Пробоподготовка для РСМА.

Исследованию, как правило, подвергаются плоские полированные образцы. Осторожно нужно относится к внедрению полировального абразива в исследуемый материал, приводящий, например, к «аномальным» включениям. Особенно это касается образцов с трещинами и пористых образцов.

Травление может изменять топографию и химию поверхности. Исследование наклонных образцов требует правильного указания значения угла наклона. Для исследования состава малопроводимых образцов используют, как правило, напыление тонкого слоя углерода (проводящего материала).

Локальный анализ химического состава: в точке.