НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Лабораторная работа №3. Настройка электронно-оптической системы просвечивающего электронного микроскопа

Это выражение дает практическое решение ПЭМ.

Стоит отметить, что, поскольку наши глаза могут решить расстояние около 0.2 мм, то максимальное полезное увеличение на лучших высокоразрешающих ПЭМ составляет около 3*106. Выше этого увеличения никаких новых подробностей изображения не будет появляться.

Настройка электроннооптической системы микроскопа

Без апертурной диафрагмы

Для юстировки правильного положения образца относительно эуцентрической плоскости необходимо правильно установить образец по оси z.

Есть высокое напряжение, есть пучок (накал), установлен образец.

Если не видно пучка (всегда), надо перейти на увеличение х100-300 (LowMag – правая панель R1).

Прозрачное место образца привести в центр экрана.

Переходим в режим увеличения MAG (≈х6000) – правая панель управления

(Если при изменении увеличения изображение уходит, следует его вывести в центр экрана SHIFT-ами юстировка примерно на увеличении х1000)

Нажимаем кнопку Standard Focus, открыть в меню VIEW окно «CONTROL LENS» и удостовериться, что токи в объективной линзе (OL Fine) равны 3.41

При стандартном фокусе следует добиться отсутствия колебания (дрожания) изображения, включив IMAGE WOBB X или Y, работая клавишами и .