НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

6.3.4 Поворот изображения и эуцентрическая плоскость

Таким образом, электроны движутся по спиральной траектории, при прохождениит поля вдоль оси линзы. Это вращение редко показано на стандартных схемах хода лучей в ПЭМ. Однако его легко можно заметить, когда вы управляете ПЭМ, потому что изображение или дифракционная картина вращается на экране, когда вы пытаетесь сфокусироваться или изменяете увеличение. В некоторых приборах, производители микроскопов компенсируют это вращение. Если это вращение не скомпенсировано производителем, то необходимо сделать калибровку поворота изображения при различных увеличениях.

Как показано на рисунке 6.4, при изменении силы линзы, сохраняя при этом d0 фиксированным, положение фокальной плоскости и плоскости изображения также будут меняться. В связи с этим, мы должны определить стандартную плоскость объекта для основной формирующей изображение линзы микроскопа, и мы называем эту проскость эуцентрической плоскостью. Положение исследуемого образца по высоте должно всегда быть подстроено к эуцентрической плоскости, потому что изображение объекта в этой плоскости не будет двигаться, при наклоне образца вокруг главной оси наклона держателя. Все другие плоскости в системе формирования изображения определяются относительно уэцентрической плоскости.