НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

Лекция 1. История развития и назначение растровой электронной микроскопии

Рисунок 8 - Первый сканирующий просвечивающий электронный микроскоп Манфред фон Арденне (а) и сканирующий электронный микроскоп, позволяющий анализировать поверхность, русского физика и инженера Владимира Зворыкина (б)