Искать...
ГЛАВНАЯ
О ПРОЕКТЕ
МАТЕРИАЛЫ
КОНТАКТЫ
База данных по материаловедению. Материалы XXI века
Базовый курс по РЭМ
Программа курса по РЭМ
Лекционные материалы по РЭМ
Лекция 1. История развития и назначение растровой электронной микроскопии
Лекция 2. Взаимодействие электронного пучка с образцом
Лекция 3. Структура растрового электронного микроскопа (РЭМ)
Лекция 4. Сканирование образца электронным пучком и формирование изображения
Лекция 5. Интерфейс пользователя РЭМ
Лекция 6. Выбор и настройка оптимальных параметров работы
Лекция 7. Пробоподготовка в РЭМ
Лекция 8. Рентгеноспектральный микроанализ (РСМА)
Лекция 9. Метод дифракции отраженных электронов (EBSD)
Лекция 10. Обслуживание Растрового электронного микроскопа
Рекомендуемая литература
Лабораторные работы по курсу РЭМ
Список контрольных вопросов
Презентации по курсу РЭМ
Лекция 3. Структура растрового электронного микроскопа (РЭМ)
| Печать |
E-mail
Страница 2 из 19
Рисунок 28 – Составляющие РЭМ JEOL JSM 6610
В начало
Назад
1
2
3
4
5
6
7
8
9
10
Вперёд
В конец
