НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

9.6.1 Калибровка увеличения

Помните, что область образца, которую вы изучаете, должна быть точно на нужной высоте в колонне. В связи с ошибками в увеличении, ПЭМ не самый лучший инструмент для измерений абсолютных размеров частиц, и т.д. Однако, относительные измерения легко сделать с достаточной точностью (± 5%), если вы обратите внимание на меры предосторожности, которые только что были прописаны. Без калибровки, цифровая индикация, дает точность в значении увеличения не лучше ±10%, и поэтому неразумно ставить увеличение с точностью, лучше 10%.

Вы можете использовать такую же процедуру для калибровки СПЭМ увеличений несмотря на то, что увеличение цифровых СПЭМ изображений, в принципе, легко вычисляется по силе катушек сканирования. Увеличение изображения отличается от цифровой индикации микроскопа из-за изменений в объективной линзе. В таблице 9.1 показана разница между типичными значениями цифровой индикации увеличения в самом микроскопе для СПЭМ режима и экспериментально определенные увеличения с использованием реплики дифракционной решеткой.

Таблица 9.1 Калибровка увеличения в СПЭМ режиме для микроскопа с ускоряющим напряжением 120 кВ

Цифровая индикация микроскопа

Вычисленное увеличение

3200

6400

12500

25000

50000

100000

3420

6850

12960

27000

54000

108000