НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

9.6.3 Разворот изображения относительно дифракционной картины

При изучении кристаллических материалов необходимо определять угол разворота между одним и тем же направлением в изображении образца и его дифракционной картине. При фиксированной длине камеры, дифракционная картина всегда появляется на экране в фиксированном положении. Но если вы записывает изображение при различных увеличениях, изображение будет поворачиваться на угол ϕ по отношению к фиксированной дифракционной картине. (В некоторых ПЭМ этот поворот компенсируется путем добавления компенсирующей проекционной линзы, и, в данном случае, всегда есть фиксированный разворот (в идеале 0°) между одним направлением, как для изображения, так и для дифракционной картины).

Последовательность операций № 11

Для определения разворота, наиболее просто использовать образец оксида молибдена MoO3, т.к. он образует тонкие, асимметричные кристаллы известным направлением длинной грани, параллельной направлению 001 в кристалле.

  • Необходимо убедиться, что образец находится в фокусе и на эуцентрической плоскости.

  • Вставьте селекторную диафрагму и убедитесь, что она находится в фокусе (с помощью промежуточных линз) и совпадает с плоскостью изображения.

  • Переключитесь в режим дифракции в параллельном пучке и настройте фокус дифракционной картины, чтобы дифракционные максимумы были резкими.

  • Получите двойную экспозицию - дифракционной картины и изображения, как показано на рисунке 9.24.A.

  • Повторите эти же действия для всех увеличений и постройте калибровочную кривую изменения угла ϕ, как показано на рисунке 9.24.B.

  • То же самое можно сделать при различных значениях длин камеры L, которые вносят систематические изменения в ϕ. По этой причине, мы рекомендуем вам получать все ваши картины дифракции на стандартных значениях длин камеры L; как правило оптимальными длинами являются 500-1000 мм.

  •