НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

9.4 Формирование дифракционной картины и изображения используя СПЭМ

Если вы хотите использовать тонкий зонд для формирования изображения в СПЭМ, то оптическая система объективной линзы немного сложнее, чем в случае традиционной ПЭМ. Ключевой особенностью является то, что в процессе сканирования не должно меняться направление сканирующего пучка (в отличие от СЭМ, где сканирующий луч просто поворачивается вокруг точки над образцом). Если направление падающего пучка изменяется, то процессы рассеяния электронов (в частности, дифракция) будут меняться, так как луч пересекает образец под разными углами. Таким образом, интерпретация контрастности изображения будет достаточно сложна.

Как показано на рисунке 9.16, мы достигаем параллельности падения лучей, используя две пары отклоняющих катушек для вращения луча в передней фокальной плоскости верхнего полюсного наконечника (С3) объективной линзы. Благодаря включению линзы C3, все электроны, выходящие из центра вращения остаются параллельными оптической оси, и изображение кроссовера линзы C1 формируется в плоскости образца. Теперь, если объективная линза симметрична, а нижний полюсный наконечник объективной линзы также сильно возбужден, то стационарная дифракционная картина формируется в задней фокальной плоскости (эта картина не двигается, несмотря на то, что луч сканирует поверхность, поскольку она сопряжена с передней фокальной плоскостью, как показано на рисунке 9.17). Если мы остановим пучок, перестав сканировать, то мы будем иметь картину дифракции в сходящемся пучке в задней фокальной плоскости, и мы можем проецировать ее на экран компьютера ПЭМ. Сначала давайте обсудим, как формируется СПЭМ изображение.