НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

10. Приготовление образцов для ПЭМ

Рисунок 10.10 Светлопольное изображение CdTe демонстрирующее (A) дефекты (темные пятна) в образце, утоненном ионами Ar и (B) неповрежденный кристалл, утоненный с помощью реактивного распыления ионами йода. Остаточные дефекты (B) были сформированы в процессе роста кристалла CdTe.