НИТУ 'МИСиС' Минобрнауки РФ TOKYO BOEKI База данных по материаловедению. Материалы XXI века
База данных по материаловедению. Материалы XXI века

9.1.4 Перемещение и наклон пучка

Существуют определенные операции в ПЭМ, в которых мы должны перемещать луч латерально вдоль образца (например, для позицинирования тонкого зонда на область, представляющую интерес для анализа). Кроме того, бывают случаи, когда нам нужно отклонять пучок от оптической оси, чтобы он падал на образец под определенным углом (например, для центрированных темнопольных изображений).

Рисунок 9.5 Работа конденсорно-объективной линзы в зависимости от силы C2 линзы. При увеличении силы С2 линзы пучок, падающий на образец, изменяется от (А) почти параллельного, (B) сходящегося, (C) расходящегося, до (D) параллельного. Можно видеть, что кроссовер движется вверх по колонне при увеличении силы C2 линзы и линза C3 образует свой кросовер перед мини-линзой в зависимости от сходимости лучей входящих в нее